Método y dispositivo para medir el coeficiente de reflexión y espesor de capas basado en una modificación de elipsometría

Un equipo de científicos alemanes ha desarrollado un método y dispositivo que permite medir los parámetros característicos de superficies ultrafinas y capas superficiales. La elipsometría es un método de medición óptica de superficies y capas superficiales. Este método mide el coeficiente de reflexión y el espesor de las capas. Los parámetros pueden emplearse para recoger información, como la composición química de materiales. El equipo busca socios industriales con el fin de establecer acuerdos de licencia o cooperación en materia de investigación.

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